- [檢測百科]分享：CT成像算法在核燃料組件成像檢測中的應(yīng)用2025年06月26日 12:53
- 探討了濾波反投影法和代數(shù)迭代重建算法在核燃料組件CT成像中的應(yīng)用，重點分析了掃描幀數(shù)、噪聲及偽影校正對成像質(zhì)量的影響。首先，對壓水堆核燃料組件的CT掃描結(jié)果進行了模擬，分析了濾波反投影法在不同掃描幀數(shù)下的成像質(zhì)量。結(jié)果表明，隨著幀數(shù)的增加，圖像質(zhì)量顯著提升，條狀偽影逐漸減弱。針對CT圖像中的常見環(huán)狀偽影，研究了雙邊濾波與高斯濾波的校正效果，發(fā)現(xiàn)雙邊濾波在邊緣保留方面優(yōu)于高斯濾波。
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- [檢測百科]分享：工作參數(shù)對紙張類不導(dǎo)電試樣掃描電鏡圖像質(zhì)量的影響2025年05月28日 13:13
- 掃描電鏡（SEM）是一種利用高能聚焦電子束掃描試樣表面，通過電子束與試樣間的相互作用激發(fā)各種物理信息，并對這些信息調(diào)制成像，從而表征試樣的儀器。利用激發(fā)出的二次電子及背散射電子成像可得到試樣形貌信息。由于二次電子僅來自試樣表層10 nm區(qū)域，因此其對試樣表面狀態(tài)非常敏感，能夠有效展示試樣表面的微觀形貌[1-2]。而背散射電子能量高，其從試樣更深處逸出表面，對原子序數(shù)較為敏感，不僅能反映試樣的形貌特征，也能顯示原子序數(shù)襯度，從而分析試樣的成分[3-4]。 紙張的品質(zhì)與其微觀結(jié)構(gòu)
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